ctH克拉系列珠寶天平(磁浮式電磁力)
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ctH克拉系列珠寶天平(磁浮式電磁力)
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HZY-A/C/B 雙量程工業型電子天平 0.001g
HZK-JA分析型天平0.0001g
比重密度套件組
HZK-BA專業型精密天平0.01g
USA.HZ HZQ-A/B 系列大秤量電子天平｜0.01 g 至 2 g
產品特色 涵蓋 2 kg 至 70 kg，大秤量樣品也能依需求選擇合適可讀性。 部分型號採雙量程與雙可讀性，在低秤量區間提供更細緻顯示。 外部校正設計，適合依現場程序搭配標準砝碼進行確認。 約 2–3 秒穩定時間，並可依需求選配通訊、列印、下掛秤重與充電電池。 選型與使用提醒 A 系列提供 0.01 g、0.1 g 或 0.5 g 等不同可讀性；B 系列以 1／2 g 雙可讀性對應更大秤量。選型時請先確認最大負載、希望的顯示精度、秤盤尺寸及校正方式。 校正與文件服務 如有校正需求，可把設備銘牌、數量、使用地點、平常秤重範圍及需要的文件傳給精傑。精傑會依設備用途協助確認一般校正、TAF 認可實驗室代送，或是否需要辦理法定檢定相關申請。 電話 02-2974-1700LINE 洽詢查看 USA.HZ 電子天平系列校正服務
USA.HZ HZK-JA 系列 0.001 g 精密天平｜內校／外校
產品特色 1 mg 高解析度，兼顧精密秤重與較大秤量需求。 外校型適合已有標準砝碼與校正程序的使用環境；S 型提供自動內部校正。 約 2–5 秒穩定時間，並具多種秤重與統計應用功能。 可依需求搭配資料傳輸、印表機、密度套件與下掛秤重。 選型與使用提醒 請先依「最大樣品重量＋容器重量」決定秤量，再選擇外部校正或自動內校型。不同型號的秤盤直徑不同，購買前也應確認樣品容器尺寸與現場空間。 校正與文件服務 如有校正需求，可把設備銘牌、數量、使用地點、平常秤重範圍及需要的文件傳給精傑。精傑會依設備用途協助確認一般校正、TAF 認可實驗室代送，或是否需要辦理法定檢定相關申請。 電話 02-2974-1700LINE 洽詢查看 USA.HZ 電子天平系列校正服務
USA.HZ HZK-FA 系列 0.0001 g 分析天平｜自動內校
產品特色 0.1 mg 高解析度，適合實驗室配方、檢測與樣品秤重。 單體式電磁力感測結構，兼顧穩定性與反應速度。 自動內部校正可依按鍵、溫度變化或開機條件執行。 支援多種秤重應用與資料傳輸；印表機、密度套件等依需求選配。 選型與使用提醒 FA110S、FA210S、FA300S 的主要差異為最大秤量與重複性。選型時請同時確認日常樣品重量、容器去皮重量、環境振動與需要的資料輸出方式。 校正與文件服務 如有校正需求，可把設備銘牌、數量、使用地點、平常秤重範圍及需要的文件傳給精傑。精傑會依設備用途協助確認一般校正、TAF 認可實驗室代送，或是否需要辦理法定檢定相關申請。 電話 02-2974-1700LINE 洽詢查看 USA.HZ 電子天平系列校正服務HZL 雙量程 、雙模式工業天平( 計數天平)
